वीएलएसआई एवं मैम्स परीक्षण

वीएलएसआई एवं मैम्स परीक्षण सुविधा, कॉम्पलेक्स, उच्च-गति एवं उच्च पिन काउंट एकीकृत डिजिटल परिपथों, मिश्रित संकेतकों एवं एनॉलाग डोमेन्स की परीक्षण मांगों की आवश्यकताओं को पूरा करता है। यह सुविधा मैम्स के विभिन्न प्रकार एवं आर एफ डिवाइसेस जैसे: दाब, ताप एवं आर्द्रता संवेदकों, त्व्रण मापी यंत्र, आर एफ स्विच एवं बैंड-पास फिल्टरों के परीक्षण में भी उपयोगी है।

परीक्षण योजना एवं इंजीनियरिंग कार्य-कलापों को उत्पादों के विभिन्न चरणों में लागू किया गया है जिनमें निम्न शामिल हैं।

     


वीएलएसआई एवं मैम्स परीक्षण सुविधा

  प्रोटोटाइप परीक्षण/ वेफर एवं डिवाइस स्तर पर त्रुटि-सुधार/परीक्षण
  डिवाइस परीक्षण
  उत्‍पादित डिवाइस का बड़ी मात्रा में स्‍वचालित परीक्षण
     
     
     

प्रमुख क्षमताएं:

8” / 6” वेफर प्रोविंग क्षमता
उच्च पिन काउंट प्रोब कार्ड विनिर्माण विशेषज्ञता
डिजिटल, मिक्सड संकेतक एवं एनॉलौग डिवाइसेस –55C से 125C तक 256 पिन (400 MHz कलॉक दर) का परीक्षण
विभिन्न प्रकार के डिवाइसेस के लिए जैसे: डिजिटल एसिकस, मिश्रित संकेतक एसिकस, सीसीडी, इमेजर डिवाइसेस, एडीसी, डीएसी, एसआरएएम, बोल्टेज रेगुलेटर, Op-amp आदि के लिए परीक्षण प्रणाली (Program) को विकास की क्षमता  
मल्टीप्लेयर एवं उच्च गति डिवाइस इंटरफेस बोर्ड
दाब संवेदकों(600 बार तक), ताप संवेदकों(-90C से 180C), आर्द्रता संवेदकों (10%RH से 95%RH ) & त्वरणमापी यंत्रों (20g) तक परीक्षण
40GHz तक आरएफ डिवाइसेस का परीक्षण